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硅碳棒自组装生长机制及控制

2022-02-12 17:05:25     点击:

    对于硅碳棒而言,由于熔融状态下的硅碳棒非常难以得到,使得硅碳棒的质量,始终没有利用“提拉法”,从液态Si中生长出的单晶Si质量好.而在VLS生长机制中,由于有液相Ni-Si合金的加入,有利于提高硅碳棒薄膜的结晶质量。图5一为利用VLS生长机制,在Si基片上生长的硅碳棒薄膜XRD图谱.实验中,金属Ni作为催化剂,厚度约为2 .m,其他生长条件与前面的硅碳棒晶须合成实验一样。从图4-32中可以看出,除了Si基片峰以外,只有3C-硅碳棒的(111)峰存在。薄膜摇摆曲线的半高宽仅为0.90,表明利用VLS生长原理合成的硅碳棒薄膜具有良好的结晶性。

    1.本章在硅碳棒自组装生长机制及控制研究的基础上,通过对催化剂位置的控制,以VLS自组装生长机制,在Si基片上成功地合成了硅碳棒微米柱阵列,确定了硅碳棒微米柱的最佳生长条件:HZ流量为500 scan. CH4和SiH4的流量分别为3 scc.和13 scan,反应室气压控制为60 Ton,生长时间为1小时。

    2.通过SEM, EDS, EBSD, TEM和微区拉曼分析表明,自组装生长的硅碳棒微米柱阵列结构完整,缺陷少,残余应力仅为0.3 GPa,具有良好的结晶性。

    3.利用VLS生长机制,在刻蚀有凹槽的Si (100)基片上成功地选择性生长出了3C-硅碳棒薄膜,通过SEM, EDS, XRD和微区拉曼分析,表明生长出的硅碳棒缺陷较少,具有良好的结晶性,并实现了毫米量级的长条状硅碳棒薄膜自组装选择性外延生长。

    4.采用较厚的金属Ni膜作为催化剂,利用VLS自组装生长机理,成功地在Si基片上实现了3C-硅碳棒薄膜生长,并且外延的3C-硅碳棒薄膜具有较高的结晶质量。

    在硅碳棒微米柱的自组装研究中,我们发现,随着生长时间的延长,当硅碳棒微米柱的高度超过孔及表面覆盖层的高度后,所生长的硅碳棒微米柱尺度明显扩大,且不再保持圆柱状特征,如图5-1示。在硅碳棒微米柱生长后期由于液滴不再受到孔的约束,液滴存在横向扩展的趋势,而且,在高温下,液滴有可能会在基片表面运动,从而导致了硅碳棒微米柱的横向生长。如果在整个基片表面存在液相催化剂,则有可能实现硅碳棒薄膜的VLS生长.本章在前面硅碳棒微米柱阵列合成的基础上,开展了硅碳棒薄膜的VLS生长研究。www.zbqunqiang.cn


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