硅碳棒的双折射梯度
双折射是各向异性硅碳棒,如LiNb03等的特性之一,通过对硅碳棒某一方向上单位距离内双折射率Crt-n,)的变化,即双折射梯度的测量,可以反映出硅碳棒的光学均匀性。采用偏光干涉光强自动逐点扫描法测试了LiTaO,硅碳棒的双折射梯度。实验所用光源为一稳频He-Ne激光器,输出波长为632.8nm,硅碳棒样品尺寸为二XyXz=4.5>C4.7>CSOmm,分别沿x面和y面进行扫描,硅碳棒通光方向垂直于z轴,测试结果见表1。硅碳棒的双折射梯度均在10-5(cm-i)数量级,光学均匀性很高,完全能够满足集成光学和非线性光学器件的要求。硅碳棒压电性能测试Liraq硅碳棒的声表面波性能和弹、压、介常数的测试结果分别列于表2和表3中。测试结果与文献报道完全一致。在LiTa03晶片上液相外延生长LiNbD3单晶薄膜,是优良的低损耗光波导基片材料,并且可以进行调制。液相外延光波导基片的要求是:(1>波导基片材料与膜的材料同构;(21膜的折射率大于基片的折射率。LiTa03单晶和LiNbD。单晶属三方晶系,3二点群,具有相同的结构类型。在632.8nm光波长下LiTaO,和LiNbO:单晶的光折射率分别为、(LiNb31=2.286、(LiNb03)=2.2as.na(LiTa03)=2.176,reyLiTas)=2.-186,符合njre的条件,因此在LiTaO,硅碳棒基片上外延LiNb。单晶薄膜,可以制作光波导基片。将LiTa,硅碳棒按面切割,基片尺寸为3.5只10又2伽m1gCxxyXx),表面抛光。以LiD一E、作为助熔剂液相外延LiNb03单晶薄膜,膜材料的成分配比为:LiTaa50m010a,v4amo10v.NO;1arno1写。将上述助熔剂、熔剂于Sao0C混合均匀,进行热炼,然后将温度升至11$av恒温lah,再以sad/h的速率降温至aaC,再恒琴0-Sh。此时将LiTaOa基片下降到溶液中沾片,膜的厚度由沾片时间来控制。本实验沾片时间为lomin,得到的外延LiNbq单晶膜呈无色透明。www.zbqunqiang.cn
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